產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
DE-TS-T150提籃式冷熱沖擊試驗箱
DE-ULTmin系列小型超低溫試驗箱
DE-TS-S450三箱式冷熱(溫度)沖擊試驗箱
DE-RTC/RHLT快速溫度變化(濕熱)試驗箱
DE-RTC2700/DE-RHLT2700大型快速溫變試驗箱
DE-CTH80高溫老化試驗室
DE-THVCT系列三綜合環(huán)境試驗箱(溫度、濕度、振動)
DE-CTH高低溫(濕熱)試驗箱
DE-WI高低溫(濕熱)試驗箱(步入式)
DE系列環(huán)境氣候類淋雨試驗箱
氣候環(huán)境類砂塵試驗箱
環(huán)境氣候類臭氧試驗箱
SS型環(huán)境氣候類臭氧試驗箱
DE-HLT系列可程式高低溫試驗箱
DE-CTH/HLT MINI系列小型(桌面型)環(huán)境試驗箱
DE-CR1000;DE-PST1000DE-CR/PST系列芯片環(huán)境試驗裝置
當前位置:首頁
產(chǎn)品中心
測試系統(tǒng)
HIL系統(tǒng)

HIL系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | de志勤環(huán)境 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HIL系統(tǒng)介紹
(Hardware-in-the-Loop)硬件在環(huán)測試系統(tǒng)是以實時處理器運行仿真模型來模擬受控對象的運行狀態(tài),通過I/O接口與被測的ECU連接,對被測ECU進行全方面的、系統(tǒng)的測試。從安全性、可行性和合理的成本上考慮,硬件在環(huán)測試已經(jīng)成為ECU開發(fā)流程中非常重要的一環(huán),減少了實車路試的次數(shù),縮短開發(fā)時間和降低成本的同時提高ECU的軟件質量,降低汽車廠的風險。
在新能源汽車這個全新的領域中,硬件在環(huán)測試對于三大核心電控系統(tǒng):整車控制系統(tǒng)、BMS電池管理系統(tǒng)、MCU電機控制器是非常重要的。
測試介紹
硬件在環(huán)測試是混合動力控制器和部件控制器開發(fā)的關鍵環(huán)節(jié),能在臺架試驗和道路試驗前對控制器功能進行驗證,縮短控制器開發(fā)周期。搭建一個套混合動力硬件在環(huán)測試系統(tǒng),對整車控制器和部件控制器進行硬件在環(huán)測試。比較控制策略測試用例自動生成方法,利用遺傳算法對混合動力控制策略自動生成測試用例,提高了控制器開發(fā)效率。
HIL系統(tǒng)功能介紹(DC-DC模塊測試)
本系統(tǒng)可支持以下功能:
1.功能測試:根據(jù)控制器功能規(guī)范,仿真各種工況,實現(xiàn)控制器的核心功能測試;
2.故障診斷測試:根據(jù)不同類型故障的注入,實現(xiàn)對控制器故障診斷測試;
3.通信測試:根據(jù)控制器的總線通信內容,實現(xiàn)對控制器總線的通信功能測試;
4.自動化測試:基于圖形化操作軟件,可實現(xiàn)系統(tǒng)的自動化測試及自動化報告生成功能;
5.性能測試:能支持控制器的回歸測試、重復性測試等;
6.擴展性要求:根據(jù)預留的軟、硬件及模型資源,可進行仿真模型的二次開發(fā)及參數(shù)配置,實現(xiàn)對其他控制器的擴展測試。